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XRF
La fluorescence X (XRF) est une technique analytique utilisée pour déterminer la composition élémentaire d'un échantillon en mesurant les rayons X émis lorsqu'il est bombardé par des rayons X ou des particules chargées. Elle est largement utilisée dans divers domaines tels que l'archéologie, la géologie, la métallurgie et la science des matériaux pour l'analyse qualitative et quantitative des éléments présents dans un échantillon.